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集成电路封装技术可靠性探讨
集成电路
封装材料
封装形式
可靠性
集成电路可靠性升级试验
可靠性
升级试验
集成电路
工程应用
俄罗斯集成电路可靠性评价技术特点
集成电路
可靠性
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超深亚微米集成电路可靠性技术
超深亚微米集成电路
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高k栅介质
金属栅
Cu/低k互连
内容分析
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文献信息
篇名 集成电路用陶瓷外壳的可靠性
来源期刊 电子陶瓷译丛 学科 工学
关键词 集成电路 陶瓷 外壳 可靠性
年,卷(期) 1990,(1) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 34-37
页数 4页 分类号 TN403
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研究主题发展历程
节点文献
集成电路
陶瓷
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可靠性
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期刊影响力
电子陶瓷译丛
双月刊
北京八五0三信箱
出版文献量(篇)
52
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