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nn^＋结构消除CMOS电路自锁效应的探讨
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期刊影响力
上海科技大学学报
主办单位：
出版周期：
季刊
ISSN：
0258-7041
CN：
31-1435/N
开本：
出版地：
上海市嘉定城中路20号
邮发代号：
创刊时间：
语种：
出版文献量（篇）
370
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