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摘要:
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基于ARM的半导体分立器件测试主机系统总线
ARM
S3C44BO
测试主机系统总线
半导体分立器件测试系统
半导体分立器件的可靠性工艺控制方法
半导体器件
质量
可靠性
工艺控制
SiC半导体材料和工艺的发展状况
碳化硅器件
器件工艺
半导体材料
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
(/次)
(/年)
文献信息
篇名 微波和毫微波半导体分立器件的发展动向
来源期刊 上海半导体 学科 工学
关键词 微波频率 极高频 半导体 分立器件
年,卷(期) 1991,(2) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 46-51
页数 6页 分类号 TN303
字数 语种
DOI
五维指标
传播情况
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引文网络
引文网络
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1991(0)
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研究主题发展历程
节点文献
微波频率
极高频
半导体
分立器件
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
上海微电子技术和应用
季刊
1006-9453
31-1239/TN
上海市胶州路397号 上海半导体器件研究
出版文献量(篇)
435
总下载数(次)
3
总被引数(次)
0
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