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摘要:
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国外超大规模集成电路的生产状况
超大规模集成电路
武器装备
发展对策
主流产品
大规模集成电路的高低温测试技术
高低温测试
热流系统
温度建立时间
大规模集成电路测试程序质量控制方法研究
集成电路
集成电路测试程序
开发过程
影响要素
评审
超大规模集成电路中的可靠性技术应用与发展
超大规模集成电路
系统芯片
可靠性
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
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文献信息
篇名 大规模集成电路中低压C^2MOS工艺的CAD
来源期刊 上海半导体 学科 工学
关键词 集成电路 CAD MOS工艺 LSI
年,卷(期) 1991,(4) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 27-28
页数 2页 分类号 TN470.2
字数 语种
DOI
五维指标
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1991(0)
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研究主题发展历程
节点文献
集成电路
CAD
MOS工艺
LSI
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
上海微电子技术和应用
季刊
1006-9453
31-1239/TN
上海市胶州路397号 上海半导体器件研究
出版文献量(篇)
435
总下载数(次)
3
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0
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