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使用TEM小室进行集成电路的辐射发射测量
透射电子显微镜
集成电路
辐射发射
测量
如何保证集成电路的测试质量
集成电路测试
硬件
软件
结果分析
管理
CMOS集成电路的ESD设计技术
互补金属氧化物半导体
集成电路
静电放电
技术
设计
集成电路芯片级的热分析方法
集成电路
热分析
功耗
内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 用集成电路测量温度
来源期刊 国外计量 学科 工学
关键词 集成电路 测量 温度
年,卷(期) 1991,(5) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 59-65
页数 7页 分类号 TK311
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研究主题发展历程
节点文献
集成电路
测量
温度
研究起点
研究来源
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引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
国外计量
双月刊
1002-5642
11-1987/T
北京市安外和平里11区7号国家技术监督局
出版文献量(篇)
602
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1
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