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集成电路逻辑测试笔
集成电路逻辑测试笔
作者:
王刚勤
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集成电路
逻辑测试笔
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文献信息
篇名
集成电路逻辑测试笔
来源期刊
仪器与未来
学科
工学
关键词
集成电路
逻辑测试笔
年,卷(期)
1993,(2)
所属期刊栏目
研究方向
页码范围
5
页数
1页
分类号
TN407
字数
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集成电路
逻辑测试笔
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期刊影响力
仪器与未来
主办单位:
中国仪器仪表学会
出版周期:
月刊
ISSN:
1000-1360
CN:
11-1307/TH
开本:
出版地:
北京月坛南街3号
邮发代号:
创刊时间:
语种:
出版文献量(篇)
1060
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1
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