论文降重
免费查重- 钛学术文献服务平台 \
- 学术期刊 \
- 综合期刊 \
- 其它期刊 \
- 上海微电子技术和应用期刊 \
Au—Cr—Al／n—CaAs肖特基接触的正向脉冲退化现象
推荐文章
Pt/Au/n-InGaN肖特基接触的电流输运机理
铟镓氮
X射线衍射
肖特基势垒
热电子发射
Ti/Al/Ni/Au与n型GaN的欧姆接触研究
n型GaN
欧姆接触
电流-电压(I-V)特性
传输线法(TLM)
两步合金法
灰铁基Cr-n-Al2O3复合电刷镀层的性能
电刷镀
Cr-n-Al2O3复合镀层
耐磨性
电化学腐蚀
超高真空脉冲激光沉积Au、U单层膜及Au/U/Au复合膜研究
金
铀
薄膜
脉冲激光沉积
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数
(/次)
(/年)
引文网络
引文网络
二级参考文献 (0)
共引文献 (0)
参考文献 (0)
节点文献
引证文献 (0)
同被引文献 (0)
二级引证文献 (0)
1994(0)
- 参考文献(0)
- 二级参考文献(0)
- 引证文献(0)
- 二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
MESFETS
砷化镓
肖特基接触
正向脉冲
退化
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
上海微电子技术和应用
主办单位：
出版周期：
季刊
ISSN：
1006-9453
CN：
31-1239/TN
开本：
出版地：
上海市胶州路397号 上海半导体器件研究
邮发代号：
创刊时间：
语种：
出版文献量（篇）
435
总下载数（次）
3
总被引数（次）
0
期刊文献
相关文献
推荐文献
