论文降重
免费查重- 钛学术文献服务平台 \
- 学术期刊 \
- 综合期刊 \
- 其它期刊 \
- 抗恶劣环境计算机期刊 \
小型器件的可靠性考虑
推荐文章
元器件可靠性增长评估
可靠性
增长
评估
电子元器件可靠性增长的分析技术
元器件
可靠性增长
分析技术
提高电路中元器件的使用可靠性
元器件
使用可靠性
失效性
改善微波功率器件可靠性的方法
微波
功率晶体管
浅结
镇流电阻
击穿电压
预匹配
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数
(/次)
(/年)
文献信息
| 篇名 | 小型器件的可靠性考虑 | ||
| 来源期刊 | 抗恶劣环境计算机 | 学科 | 工学 |
| 关键词 | SOIC器件 小型器件 可靠性 电子设备 | ||
| 年，卷（期） | kelhjjsj_1995,（5） | 所属期刊栏目 | |
| 研究方向 | 页码范围 | 55-59 | |
| 页数 | 5页 | 分类号 | TN406 |
| 字数 | 语种 | ||
| DOI | |||
五维指标
引文网络
引文网络
二级参考文献 (0)
共引文献 (0)
参考文献 (0)
节点文献
引证文献 (0)
同被引文献 (0)
二级引证文献 (0)
1995(0)
- 参考文献(0)
- 二级参考文献(0)
- 引证文献(0)
- 二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
SOIC器件
小型器件
可靠性
电子设备
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
抗恶劣环境计算机
主办单位：
华东计算技术研究所
出版周期：
双月刊
ISSN：
CN：
开本：
出版地：
上海市800-209信箱
邮发代号：
创刊时间：
语种：
出版文献量（篇）
563
总下载数（次）
0
期刊文献
相关文献
推荐文献
