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基于ARM的半导体分立器件测试主机系统总线
ARM
S3C44BO
测试主机系统总线
半导体分立器件测试系统
半导体分立器件的可靠性工艺控制方法
半导体器件
质量
可靠性
工艺控制
半导体器件寿命计算
半导体器件
寿命计算
失效率
阿伦纽斯模型
塑封半导体器件的可靠性保证措施
塑封半导体器件
可靠性
温度适应性评估
二次筛选
破坏性物理分析
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
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文献信息
篇名 浅谈上海半导体分立器件的发展
来源期刊 电子与仪表 学科 经济
关键词 半导体器件 分立器件 电子工业 生产 上海
年,卷(期) 1997,(3) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 6-7
页数 2页 分类号 F426.6
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DOI
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1997(0)
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研究主题发展历程
节点文献
半导体器件
分立器件
电子工业
生产
上海
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子与仪表
双月刊
31-1446/TN
出版文献量(篇)
1004
总下载数(次)
5
总被引数(次)
0
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