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摘要:
抗折强度是反映低烧基板性能的一个非常重要的技术指标.通过试验找出了粉料粒度及配方、热压工艺条件、烧成曲线等与抗折强度的关系,并分析了其机理.试验得到的最佳工艺参数为:粉料粒度d=1.0~1.5μm;SiO2/玻璃=45/55;热压条件:P=20 MPa,θ=110℃,t=40 min;烧成条件:θp=850~900℃,升温速度=2.5℃/min,tk=30 min.采用该工艺可将抗折强度提高到153 N/mm2.
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内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 LTCC 基板抗折强度的研究
来源期刊 电子元件与材料 学科 工学
关键词 抗折强度 低温共烧多层陶瓷基板 热压工艺 烧成曲线
年,卷(期) 1999,(3) 所属期刊栏目 研究与试制
研究方向 页码范围 16-18
页数 分类号 TN45
字数 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1001-2028.1999.03.007
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2010(1)
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研究主题发展历程
节点文献
抗折强度
低温共烧多层陶瓷基板
热压工艺
烧成曲线
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子元件与材料
月刊
1001-2028
51-1241/TN
大16开
成都市一环路东二段8号宏明商厦702室
62-36
1982
chi
出版文献量(篇)
5158
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16
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31758
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