RAM的故障模型及自测试算法

• 作者: 刘国刚 张天宏 李璇君 辛季龄
• 来源期刊: 南京航空航天大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 故障检测 故障模型 耦合故障 自测试算法 故障注入
• 年，卷（期）: 1999,（1）
• 所属期刊栏目: 理论与试验研究
• 页码范围: 48-53
• 页数: 6页
• 分类号: TP333.8
• 字数: 3590字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-2615.1999.01.009

摘要

通过对RAM故障情况的全面、深入分析,建立了RAM的功能故障模型.并在此基础上,提出一种全面、实用的故障自测试算法.该算法分三步完成测试:(1)测试RAM中的固定为1(0)故障、固定开路故障、状态转换故障、数据保持故障及第一类耦合故障中的不相关耦合等故障;(2)测试第一类耦合故障中的相关耦合故障;(3)测试第二类耦合故障.对RAM的故障注入试验验证了该算法的有效性.并将此算法应用于航空电子模拟器的BIT(Built in test)的设计中.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘国刚	南京航空航天大学动力工程系	8	92	5.0	8.0
2	辛季龄	南京航空航天大学动力工程系	7	87	6.0	7.0
3	张天宏	南京航空航天大学动力工程系	102	991	17.0	25.0
4	李璇君	南京航空航天大学动力工程系	4	70	4.0	4.0