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摘要:
利用金属诱导晶化(Metal Induced Crystallization, MIC)的方法研究了a-Si/Ni的低温晶化, MIC的晶化温度降低到440℃。采用XRD、 Raman、 SEM和XPS等手段研究了Ni-MIC多晶硅薄膜的特性,分析了薄膜结构和组成,讨论了晶化过程的机理。
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文献信息
篇名 金属诱导法低温多晶硅薄膜的制备与研究
来源期刊 液晶与显示 学科 物理学
关键词 金属诱导晶化 多晶硅薄膜 退火
年,卷(期) 2000,(4) 所属期刊栏目 研究报告
研究方向 页码范围 250-254
页数 5页 分类号 O484.4
字数 2123字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1007-2780.2000.04.002
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多晶硅薄膜
退火
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期刊影响力
液晶与显示
月刊
1007-2780
22-1259/O4
大16开
长春市东南湖大路3888号
12-203
1986
chi
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