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摘要:
以氢气稀释的硅烷(SiH4)和硼烷(B2H6)为气源,利用等离子体增强化学气相沉积法(PECVD)制备出p型a-Si薄膜.采用铝诱导晶化技术对不同厚度的铝膜对a-Si薄膜晶化的影响进行了研究.实验中发现,铝膜溅射为10 s的非晶硅薄膜样品在450℃下退火10 min后,p型a-Si结构仍为非晶态,铝膜溅射为20 s的非晶硅薄膜在450℃下退火20 min后,p型a-Si薄膜开始晶化为polySi薄膜,并且铝膜厚度越厚,则a-Si薄膜晶化程度越强.
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制备方法
内容分析
关键词云
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文献信息
篇名 金属铝诱导法低温制备多晶硅薄膜
来源期刊 感光科学与光化学 学科 工学
关键词 金属铝诱导晶化 快速退火 a-Si薄膜 poly-Si薄膜
年,卷(期) 2006,(2) 所属期刊栏目 研究论文
研究方向 页码范围 87-92
页数 6页 分类号 TN304
字数 2489字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1674-0475.2006.02.002
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 赵修建 武汉理工大学硅酸盐材料工程教育部重点实验室 220 2735 25.0 43.0
2 徐慢 武汉理工大学硅酸盐材料工程教育部重点实验室 10 206 6.0 10.0
3 夏冬林 武汉理工大学硅酸盐材料工程教育部重点实验室 43 437 11.0 20.0
4 杨晟 武汉理工大学硅酸盐材料工程教育部重点实验室 9 160 6.0 9.0
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研究主题发展历程
节点文献
金属铝诱导晶化
快速退火
a-Si薄膜
poly-Si薄膜
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
影像科学与光化学
双月刊
1674-0475
11-5604/O6
16开
北京市海淀区中关村东路29号 中科院理化所
2-383
1983
chi
出版文献量(篇)
1689
总下载数(次)
4
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11331
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