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摘要:
利用LP-MOCVD技术在GaAs(001)衬底上生长了高质量的立方相InGaN外延层.研究了生长速率对hGaN质量的影响,提出一个简单模型解释了在改变TEGa流量条件下出现的In组分的变化规律,实验结果与模型的一次项拟合结果较为吻合,由此推断,在现在的生长条件下,表面单个Ga原子作为临界晶核吸附Ga或In原子实现生长的模型与实际情况较为接近.对于晶体质量的变化也给予了说明.得到的高质量立方相InGaN室温下有很强的发光峰,光致发光峰半高宽为128meV左右.
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文献信息
篇名 高质量立方相InGaN的生长
来源期刊 半导体学报 学科 工学
关键词 InGaN MOCVD生长 光致发光
年,卷(期) 2000,(6) 所属期刊栏目 研究论文
研究方向 页码范围 548-553
页数 6页 分类号 TN304.2+6
字数 3946字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:0253-4177.2000.06.005
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 杨辉 中国科学院半导体研究所国家光电子工艺中心 179 2701 25.0 46.0
2 王玉田 中国科学院半导体研究所国家光电子工艺中心 13 28 3.0 5.0
3 赵德刚 中国科学院半导体研究所国家光电子工艺中心 42 214 9.0 12.0
4 孙小玲 中国科学院半导体研究所国家光电子工艺中心 5 20 2.0 4.0
5 李顺峰 中国科学院半导体研究所国家光电子工艺中心 3 8 2.0 2.0
6 徐大鹏 中国科学院半导体研究所国家光电子工艺中心 11 77 4.0 8.0
7 张书明 11 20 3.0 4.0
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半导体学报(英文版)
月刊
1674-4926
11-5781/TN
大16开
北京912信箱
2-184
1980
eng
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