混合技术电路板簇测试的多边界扫描链优化配置

• 作者: 刘冠军 易晓山 曾芷德 温熙森
• 来源期刊: 计算机辅助设计与图形学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 边界扫描 簇测试 混合技术电路板
• 年，卷（期）: 2000,（10）
• 所属期刊栏目: 计算机辅助测试
• 页码范围: 792-795
• 页数: 4页
• 分类号: TN70
• 字数: 3180字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1003-9775.2000.10.015

摘要

由边界扫描器件和非边界扫描器件组装的混合技术电路板将在今后相当长时间内广泛存在,板中由非边界扫描器件组成的簇的测试是边界扫描测试领域重要而富有实际价值的问题.为减少其测试时间,基于贪婪策略和单扫描链最优排序技术,提出了一种多边界扫描链优化配置技术.经实例验证表明,该技术可以有效地减少混合技术电路板簇测试时间,提高测试效率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘冠军	国防科技大学智能监控与故障诊断研究室	88	860	18.0	23.0
2	温熙森	国防科技大学智能监控与故障诊断研究室	96	1778	24.0	38.0
3	曾芷德	国防科技大学计算机学院	10	23	3.0	3.0
4	易晓山	国防科技大学智能监控与故障诊断研究室	24	268	10.0	15.0