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倒装片封装与芯片规模封装的综合比较及其发展前景
倒装片封装与芯片规模封装的综合比较及其发展前景
作者:
杨建生
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
倒装片封装
芯片规模封装
综合比较
发展前景
摘要:
本文主要论述了现代微电子封装技术中倒装片封装技术和芯片规模封装技术的结构类型,应用产品,倒装片与晶片级规模封装,并阐述了倒装片封装与芯片规模封装的综合比较及其发展前景.
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文献信息
篇名
倒装片封装与芯片规模封装的综合比较及其发展前景
来源期刊
电子与封装
学科
工学
关键词
倒装片封装
芯片规模封装
综合比较
发展前景
年,卷(期)
2001,(2)
所属期刊栏目
综述
研究方向
页码范围
17-20
页数
4页
分类号
TN305.94
字数
3393字
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1681-1070.2001.02.005
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
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G指数
1
杨建生
8
17
3.0
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芯片规模封装
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研究来源
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期刊影响力
电子与封装
主办单位:
中国电子科技集团公司第五十八研究所
出版周期:
月刊
ISSN:
1681-1070
CN:
32-1709/TN
开本:
大16开
出版地:
江苏无锡市惠河路5号(208信箱)
邮发代号:
创刊时间:
2002
语种:
chi
出版文献量(篇)
3006
总下载数(次)
24
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