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半导体分立器件仍有发展空间
半导体分立器件仍有发展空间
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摘要：
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基于ARM的半导体分立器件测试主机系统总线
ARM
S3C44BO
测试主机系统总线
半导体分立器件测试系统
半导体分立器件的可靠性工艺控制方法
半导体器件
质量
可靠性
工艺控制
半导体器件寿命计算
半导体器件
寿命计算
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阿伦纽斯模型
Ⅲ/Ⅴ族化合物半导体器件的空间应用可靠性
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期刊影响力
微纳电子技术
主办单位：
中国电子科技集团公司第十三研究所
出版周期：
月刊
ISSN：
1671-4776
CN：
13-1314/TN
开本：
大16开
出版地：
石家庄市179信箱46分箱
邮发代号：
18-60
创刊时间：
1964
语种：
chi
出版文献量（篇）
3266
总下载数（次）
22
总被引数（次）
16974
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