基于多扫描链的内建自测试技术中的测试向量生成

• 作者: 叶以正 李兆麟 毛志刚
• 来源期刊: 计算机学报
• 学科: 工学
• 关键词: 基于扫描的内建自测试 多扫描链 线性反馈移位寄存器 最小相关度
• 年，卷（期）: 2001,（4）
• 所属期刊栏目: 研究论文与技术报告
• 页码范围: 411-419
• 页数: 9页
• 分类号: TP302
• 字数: 8459字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0254-4164.2001.04.013

摘要

针对基于多扫描链的内建自测试技术，提出了一种测试向量生成方法.该方法用一个线性反馈移位寄存器（LFSR）作为伪随机测试向量生成器，同时给所有扫描链输入测试向量，并通过构造具有最小相关度的多扫描链来克服扫描链间的相关性对故障覆盖率的影响.此外该方法经过模拟确定难测故障集，并针对这个难测故障集利用ATPG生成最小确定性测试向量集.最后再依据得到的最小测试向量集来设计位改变逻辑电路，利用位改变逻辑电路控制改变扫描链上特定位的值来实现对难测故障的检测，从而实现被测电路的故障完全检测.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	叶以正	哈尔滨工业大学微电子中心	67	544	14.0	21.0
2	毛志刚	哈尔滨工业大学微电子中心	58	658	14.0	23.0
3	李兆麟	北京大学微电子学研究所	2	14	2.0	2.0