单片机应用系统中元器件的可靠性设计

• 作者: 刘爱琴 邢永中
• 来源期刊: 电子元件与材料
• 学科: 工学
• 关键词: 单片机系统 可靠性 元器件
• 年，卷（期）: 2002,（3）
• 所属期刊栏目: 可靠性
• 页码范围: 30-32
• 页数: 3页
• 分类号: TP268.2|TB114.3
• 字数: 3558字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-2028.2002.03.013

摘要

单片机应用系统的可靠性很大程度上依赖于所用元器件的可靠性.介绍了可靠性概念及影响单片机可靠性因素.着重阐述为保证单片机可靠性,对元器件的要求和可靠性设计.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘爱琴	安阳大学计算机系	18	154	7.0	12.0
2	邢永中		9	46	4.0	6.0