可测试性设计中的功耗优化技术

• 作者: 周旭 李文 范东睿 蒋敬旗
• 来源期刊: 贵州工业大学学报(自然科学版)
• 学科: 工学
• 关键词: 低功耗 测试 优化
• 年，卷（期）: 2002,（4）
• 所属期刊栏目: 电子及测试技术应用
• 页码范围: 1-7
• 页数: 7页
• 分类号: TP306+.2|TN707
• 字数: 7507字
• 语种: 中文

摘要

降低测试期间的功耗是当前学术界和工业界新出现的一个研究领域.在可测试性设计中进行功耗优化的主要原因是数字系统在测试方式的功耗比在系统正常工作方式高很多.测试期间功耗会引发成本增加,可靠性降低,成品率下降.首先介绍低功耗测试技术中的基本概念和功耗建模方法,分析测试过程中功耗升高的原因,对已有的几种主要的降低测试功耗方法进行详细分析,最后给出一种高性能微处理器的真速低功耗自测试方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李文	中国科学院计算技术研究所	179	2992	32.0	43.0
2	周旭	中国科学院计算技术研究所	62	377	11.0	16.0
3	范东睿	中国科学院计算技术研究所	35	225	9.0	13.0
4	蒋敬旗	中国科学院计算技术研究所	5	47	4.0	5.0