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摘要:
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提高MOS功率晶体管封装可靠性技术研究
金属-氧化物-半导体器件
功率品体管
封装
导通电阻
器件可靠性
神经MOS晶体管在A/D和D/A转换器中的应用
神经MOS晶体管
宏模型
A/D
D/A
功率晶体管结温测量与器件筛选条件拟定
功率晶体管
结温测量
器件筛选
红外热像仪
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
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文献信息
篇名 晶体管、MOS器件
来源期刊 电子科技文摘 学科 工学
关键词 MOS器件 直流特性 反向击穿电压 MESFET 固体电子学 栅长 热载流子 双极型 信号处理电路 跨导
年,卷(期) dzkjwz_2002,(11) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 22-23
页数 2页 分类号 TN386
字数 语种
DOI
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引文网络
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2002(0)
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研究主题发展历程
节点文献
MOS器件
直流特性
反向击穿电压
MESFET
固体电子学
栅长
热载流子
双极型
信号处理电路
跨导
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子科技文摘
月刊
1009-0851
11-4388/TN
16开
1999
chi
出版文献量(篇)
10413
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1
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