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摘要:
通过对Ma-P100正性厚胶光刻技术的研究,初步解决了厚胶工艺易出现的胶的均匀性问题,厚胶长时间曝光工艺,用普通曝光机获得了厚度为60μm,分辨率为20μm的厚胶图形。
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文献信息
篇名 厚胶光刻工艺技术
来源期刊 电子元器件应用 学科 工学
关键词 厚胶光刻工艺 抗蚀剂 Ma-p100 曝光工艺 集成电路
年,卷(期) 2003,(2) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 37-38
页数 2页 分类号 TN305.7
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研究主题发展历程
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厚胶光刻工艺
抗蚀剂
Ma-p100
曝光工艺
集成电路
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子元器件应用
月刊
1563-4795
大16开
西安市科技路37号海星城市广场B座240
1999
chi
出版文献量(篇)
5842
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7
总被引数(次)
11366
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