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摘要:
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一种适用于FinFET单存储单元的高效的动态故障测试算法
SRAM
March算法
动态故障
故障原语
MBIST
一种基于FPGA的存储器模块测试系统设计
存储器模块
March-B算法
波形发生器
测试
一种新型存储器测试辅助分析方法
存储器
失效存储单元
版图坐标文件
寻址
坐标二维图像
一种应用于UHF RFID无源标签芯片的单栅存储器
RFID
存储器
单栅
CMOS工艺兼容
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
(/次)
(/年)
文献信息
篇名 应用于实时系统中存储器故障测试的一种新方法
来源期刊 控制工程(北京) 学科 工学
关键词 实时系统 存储器 故障模式 乒乓测试方法 模式敏感测试方法
年,卷(期) 2004,(1) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 9-11
页数 3页 分类号 TP333
字数 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 杨孟飞 18 120 3.0 10.0
传播情况
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引文网络
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2004(0)
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研究主题发展历程
节点文献
实时系统
存储器
故障模式
乒乓测试方法
模式敏感测试方法
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
控制工程(北京)
双月刊
北京2729信箱21分箱
出版文献量(篇)
1045
总下载数(次)
6
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