范德堡方法在ZnO薄膜测试中的应用

• 作者: 傅竹西 刘磁辉 朱俊杰 林碧霞 谢家纯
• 来源期刊: 发光学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 范德堡方法 ZnO膜薄 欧姆接触 霍尔效应
• 年，卷（期）: 2004,（3）
• 所属期刊栏目: 研究论文
• 页码范围: 317-319
• 页数: 3页
• 分类号: O472.3
• 字数: 1011字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-7032.2004.03.020

摘要

近年来,随着对宽禁带半导体材料,氧化锌薄膜研究的快速发展,对其电学性质的研究也显得尤为重要.主要介绍范德堡方法在ZnO薄膜电学性质测量中的应用,并对初步测量结果作简要的讨论.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	傅竹西	中国科学技术大学物理系	53	808	17.0	27.0
5	刘磁辉	中国科学技术大学物理系	13	183	6.0	13.0
6	林碧霞	中国科学技术大学物理系	32	700	16.0	26.0
10	朱俊杰	中国科学技术大学物理系	39	448	14.0	19.0
11	谢家纯	中国科学技术大学物理系	16	181	8.0	13.0