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摘要:
推荐文章
倒装芯片组装集成电路开封方法
倒装芯片
结构分析
封装形式
环氧树脂
开封方法
避免发生芯片裂纹的倒装片BGA技术概述
球栅阵列封装
裂纹
芯片
有限单元分析
倒装片
断裂力学
设计工艺
倒装芯片拉脱试验分析与测试方法改进研究
倒装片
拉脱试验
测试方法
内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 ASE和IBM二公司在倒装芯片组装中进行合作
来源期刊 电子与封装 学科
关键词
年,卷(期) 2004,(6) 所属期刊栏目 信息报道
研究方向 页码范围 13
页数 1页 分类号
字数 776字 语种 中文
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引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子与封装
月刊
1681-1070
32-1709/TN
大16开
江苏无锡市惠河路5号(208信箱)
2002
chi
出版文献量(篇)
3006
总下载数(次)
24
总被引数(次)
9543
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