嵌入式系统的存储器测试方法及其应用

• 作者: 丁有志 朱建军 杨镇西 王继
• 来源期刊: 信息工程大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 嵌入式系统 存储器 MPC860
• 年，卷（期）: 2004,（4）
• 所属期刊栏目: 计算机技术及应用
• 页码范围: 50-53
• 页数: 4页
• 分类号: TP333
• 字数: 2616字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-0673.2004.04.015

摘要

文章对嵌入式系统设计中存储器常见问题进行了分析,介绍了一种快速有效的存储器测试方法,并以MPC860通信处理器为CPU的系统为例,详细描述了如何实际应用该测试方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	丁有志	信息工程大学国家数字交换系统工程技术研究中心	1	3	1.0	1.0
2	杨镇西	信息工程大学国家数字交换系统工程技术研究中心	2	3	1.0	1.0
3	王继	信息工程大学国家数字交换系统工程技术研究中心	1	3	1.0	1.0
4	朱建军	信息工程大学国家数字交换系统工程技术研究中心	2	4	1.0	2.0