总线功能模型在集成电路功能验证中的设计和应用

• 作者: 夏晓菲 杜旭 赵宇
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 总线功能模型 验证 DUT BFL
• 年，卷（期）: 2004,（5）
• 页码范围: 130-133
• 页数: 4页
• 分类号: TN407
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-7180.2004.05.037

摘要

随着集成电路的设计规模不断增大,功能验证逐渐成为整个设计过程中的瓶颈.文章在对传统的验证方法进行分析的基础上,介绍了使用总线功能模型的验证方法,并对总线功能模型设计的策略和方法进行了探讨.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杜旭	华中科技大学电子与信息工程系	70	652	13.0	21.0
2	赵宇	华中科技大学电子与信息工程系	5	96	3.0	5.0
3	夏晓菲	华中科技大学电子与信息工程系	3	95	3.0	3.0