破坏性物理分析(DPA)在评价元器件质量水平方面的作用

• 作者: 宋芳芳 牛付林
• 来源期刊: 电子质量
• 关键词: 破坏性物理分析 电子元器件 质量 缺陷
• 年，卷（期）: 2004,（4）
• 所属期刊栏目: 可靠性与分析
• 页码范围: 73-74
• 页数: 2页
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0107.2004.04.024

摘要

破坏性物理分析(DPA)技术是保证电子元器件质量的关键技术,在电子元器件的生产过程中以及上机前,在保证电子元器件质量一致性、可靠性等方面有着广泛且重要的应用优势.但目前国内没有充分应用此技术,严重的限制了国内电子元器件质量的提高,尤其是民用电子元器件普遍存在或多或少的隐蔽的质量缺陷.