安捷伦93000SOC测试系统新增多时钟畴测试能力

• 来源期刊: 电子元器件应用
• 学科: 工学
• 关键词: 安捷伦公司 安捷伦93000 SOC 测试系统 多时钟畴测试 芯片系统
• 年，卷（期）: 2004,（1）
• 页码范围: 16
• 页数: 1页
• 分类号: TN407

摘要

安捷伦科技日前宣布，安捷伦93000SOC测试系统新增多时钟畴的升级配备，据称新的解决方案使计算机芯片、绘图芯片组、图形控制器及网络处理器等拥有多种不同界面，采用多种不同工作时脉的组件，能够一次测试完毕。例如同时采用PCI Express及Hyper Transport等硬件界面之组件及零组