集成电路可靠性应用技术

• 作者: 闫立
• 来源期刊: 电子质量
• 关键词: Arrhenis Model Hallberg-Peck Mode1 Coffin-Manson Mode1 Ese LATCH-UP 人体放电模型 机器放电模型 充电元件模型 失效率 MTTF
• 年，卷（期）: 2005,（4）
• 所属期刊栏目: 可靠性分析与研究
• 页码范围: 26-28,47
• 页数: 4页
• 分类号: TN306
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0107.2005.04.011

摘要

本文主要论述集成电路加速寿命测试理论方法和IC常见失效模式.加速寿命测试包括定性高加速寿命HALT测试技术和定量加速寿命测试Arrhenius model等,该测试技术主要应用于IC设计前端识别失效模式和IC设计定型阶段估算IC正常使用条件下的寿命信息,及时有效的评估IC设计平均寿命;在电子产品制造系统中,常常有两种失效模式:ESD静电损伤和LATCH-UP失效现象,对以上可靠性指标和理论作简要的论述.