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摘要:
详细论述了用于数字射频存储器系统的单片超高速GaAs 3bit相位DAC的设计、制造及测试.在南京电子器件研究所标准75mm GaAs工艺线采用0.5μm全离子注入MESFET工艺完成流片.芯片输入输出阻抗实现在片50Ω匹配.测试结果表明,其工作带宽大于1.5GHz,相位精度小于4%,电路的码流翻转速率大于12Gbps.
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文献信息
篇名 单片GaAs 3bit相位DAC的设计与实现
来源期刊 半导体学报 学科 工学
关键词 相位数字化DAC 超高速 GaAs DRFM
年,卷(期) 2005,(5) 所属期刊栏目 研究快报
研究方向 页码范围 873-876
页数 4页 分类号 TN431.1
字数 489字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:0253-4177.2005.05.005
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 高建峰 23 98 7.0 9.0
2 夏冠群 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 61 307 9.0 16.0
3 李拂晓 60 352 10.0 14.0
4 杨乃彬 18 95 6.0 8.0
5 张有涛 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 19 40 4.0 5.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
相位数字化DAC
超高速
GaAs
DRFM
研究起点
研究来源
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引文网络交叉学科
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期刊影响力
半导体学报(英文版)
月刊
1674-4926
11-5781/TN
大16开
北京912信箱
2-184
1980
eng
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