CuCr触头材料电弧腐蚀速率的测定

• 作者: 丁秉钧 杨志懋 段文新 王伟 王学成 郭聪慧
• 来源期刊: 稀有金属材料与工程
• 学科: 工学
• 关键词: 电弧腐蚀速率 CuCr25 CuCr50 触头材料
• 年，卷（期）: 2005,（2）
• 所属期刊栏目: 材料工艺
• 页码范围: 295-298
• 页数: 4页
• 分类号: TM206
• 字数: 2669字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1002-185X.2005.02.030

摘要

自行设计了电弧腐蚀速率的测量方法,避免了一般电弧腐蚀速率测量中存在的不足,并对真空断路器中常用的CuCr25,CuCr50触头材料以及纯Cu和纯Cr的电弧腐蚀速率进行了测量.研究结果表明,纯Cu,CuCr25,CuCr50和纯Cr的电弧腐蚀速率分别为52.9μg/C,33.2μg/C,31μg/C和25.9μg/C.CuCr25和CuCr50的电弧腐蚀速率相差不大,都较纯Cu有大幅度的降低,而与纯Cr的电弧腐蚀速率比较接近.此外,用SEM对4种触头材料经100次燃弧之后的电极表面进行了现测,清楚地反映了经电弧腐蚀之后触角材料的表面特征.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨志懋	西安交通大学金属材料强度国家重点实验室	43	491	13.0	20.0
2	丁秉钧	西安交通大学金属材料强度国家重点实验室	92	1302	20.0	31.0
3	王伟	西安交通大学金属材料强度国家重点实验室	180	1518	19.0	32.0
4	郭聪慧	西安交通大学金属材料强度国家重点实验室	2	22	2.0	2.0
5	段文新	西安交通大学金属材料强度国家重点实验室	2	22	2.0	2.0
6	王学成	西安交通大学金属材料强度国家重点实验室	3	67	3.0	3.0