基于内建自测试的伪随机测试向量生成方法

• 作者: 王成华 邱航
• 来源期刊: 淮阴师范学院学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 可测性设计 内建自测试 线性反馈移位寄存器 伪随机序列生成电路
• 年，卷（期）: 2006,（3）
• 页码范围: 212-215
• 页数: 4页
• 分类号: TN407
• 字数: 1113字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-6876.2006.03.010

摘要

内建自测试作为一种新的可测性设计方法,能显著提高电路的可测性.本文研究了内建自测试中的测试向量的生成方法,详细介绍了由线性反馈移位寄存器构成的伪随机序列生成电路的原理,给出了由触发器和异或门构成的外接型、内接型以及混合型伪随机序列生成电路.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王成华	南京航空航天大学信息科学与技术学院	79	713	15.0	23.0
2	邱航	南京航空航天大学信息科学与技术学院	1	4	1.0	1.0