半导体封装测试厂库存控制系统的研究

• 作者: 李茂 王安麟
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: 半导体封装测试 在制品库存 定常库存
• 年，卷（期）: 2006,（5）
• 所属期刊栏目: 封装、组装与测试
• 页码范围: 12-15,18
• 页数: 5页
• 分类号: TN305.94
• 字数: 3669字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1681-1070.2006.05.004

摘要

在制品库存控制是生产制造系统的一项重要活动,它直接关系到工厂的产出、生产周期和物料投放.当前很多半导体封装测试厂还没有形成一个系统化的库存管理模式,导致库存过高或不均,直接影响产出和生产成本.文章将阐述半导体封装测试厂如何选用并有效实施CONWIP系统,以及它在生产控制、降低库存和缩短生产周期上发挥的积极作用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王安麟	上海交通大学机械与动力工程学院	30	541	13.0	22.0
2	李茂	上海交通大学机械与动力工程学院	1	12	1.0	1.0