基于Nios Ⅱ的Serial EEPROM测试方法研究

• 作者: 周亚丽 周冬雁 周辰 武乾文
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: Serial EEPROM 测试 Nios Ⅱ CPU软核 编程
• 年，卷（期）: 2006,（5）
• 所属期刊栏目: 封装、组装与测试
• 页码范围: 16-18
• 页数: 3页
• 分类号: TN407
• 字数: 1371字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1681-1070.2006.05.005

摘要

文章介绍了Serial EEPROM的测试原理,提出了一种基于NiosⅡ软核CPU测试Serial EEPROM的方法,该方法具有稳定性高、所需器件少、可编程、低成本等优点.在Serial EEPROM的大量测试中可以代替昂贵的测试系统,是一种性价比较高的替代测试方案.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	周亚丽		7	14	3.0	3.0
2	武乾文		10	27	3.0	4.0
3	周冬雁		3	4	1.0	2.0
4	周辰		1	0	0.0	0.0