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摘要:
集成电路的飞速发展使得从封装到电子设备的单位体积功耗和发热量不断增加.电子系统散热问题需要在设计阶段就通过热仿真予以充分考虑和预测.电子封装作为电子系统的最小组成部分,其简化模型的优劣直接影响电子系统热分析的速度和准确性.本文主要讨论单芯片封装稳态简化热模型的建立.先后介绍了从最简单的单热阻模型到目前广为关注的边界条件独立的DELPHI简化模型的结构.其中着重分析了两热阻模型和DELPHI模型的建模方法及过程.
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关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 电子封装的简化热模型研究
来源期刊 电子器件 学科 工学
关键词 简化热模型 热阻 热分析 封装
年,卷(期) 2006,(3) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 672-675,679
页数 5页 分类号 TN3
字数 3190字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1005-9490.2006.03.016
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 张栋 北京航空航天大学工程系统工程系 24 177 7.0 12.0
2 付桂翠 北京航空航天大学工程系统工程系 22 405 9.0 20.0
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研究主题发展历程
节点文献
简化热模型
热阻
热分析
封装
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子器件
双月刊
1005-9490
32-1416/TN
大16开
南京市四牌楼2号
1978
chi
出版文献量(篇)
5460
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27643
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