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摘要:
多芯片组件(MCM)的可靠性特别是其热可靠性已经成为国内外电子产品可靠性研究的焦点之一.热有限元分析法是多芯片组件热分析的重要方法.本文运用ANSYS工具建立了MCM的三维热模型,得到了温场分布.通过热模拟和热分析,提出了改善MCM温场的方案.
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内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 有限元分析法在MCM三维热模拟中的应用
来源期刊 半导体学报 学科 工学
关键词 多芯片组件 有限元分析 ANSYS 热模拟 热分析
年,卷(期) 2006,(z1) 所属期刊栏目 研究论文
研究方向 页码范围 351-353
页数 3页 分类号 TN385
字数 1805字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:0253-4177.2006.z1.086
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 吴月花 北京工业大学电子信息与控制工程学院 7 15 2.0 3.0
2 李志国 北京工业大学电子信息与控制工程学院 57 418 12.0 18.0
3 胡修振 北京工业大学电子信息与控制工程学院 2 7 2.0 2.0
4 廖京宁 北京工业大学电子信息与控制工程学院 3 8 2.0 2.0
5 郭春生 北京工业大学电子信息与控制工程学院 44 302 10.0 15.0
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研究主题发展历程
节点文献
多芯片组件
有限元分析
ANSYS
热模拟
热分析
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
半导体学报(英文版)
月刊
1674-4926
11-5781/TN
大16开
北京912信箱
2-184
1980
eng
出版文献量(篇)
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