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摘要:
利用PECVD设备在普通玻璃基片上沉积a-Si薄膜,采用铝诱导晶化法(AIC)在氮气气氛下进行快速退火处理制备出poly-Si薄膜.研究了不同的热处理条件对a-Si薄膜微观结构、表面形貌的影响,通过XRD、Raman、SEM等测试手段对薄膜的结构、形貌进行表征.结果表明:铝膜的厚度为1 μm时,在450 ℃下退火10 min,薄膜样品开始向poly-Si薄膜转变,并且随着退火温度的升高和退火时间的增加,晶化程度加强.
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内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 铝诱导多晶硅薄膜的制备与微结构研究
来源期刊 武汉理工大学学报 学科 工学
关键词 铝诱导晶化 多晶硅薄膜 非晶硅薄膜
年,卷(期) 2006,(5) 所属期刊栏目 材料科学与工程
研究方向 页码范围 8-10
页数 3页 分类号 O766|TN304
字数 1900字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:1671-4431.2006.05.003
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 赵修建 武汉理工大学硅酸盐材料工程教育部重点实验室 220 2735 25.0 43.0
2 徐慢 武汉理工大学硅酸盐材料工程教育部重点实验室 10 206 6.0 10.0
3 夏冬林 武汉理工大学硅酸盐材料工程教育部重点实验室 43 437 11.0 20.0
4 杨晟 武汉理工大学硅酸盐材料工程教育部重点实验室 9 160 6.0 9.0
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研究主题发展历程
节点文献
铝诱导晶化
多晶硅薄膜
非晶硅薄膜
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
武汉理工大学学报
月刊
1671-4431
42-1657/N
大16开
武昌珞狮路122号武汉理工大学(西院)
38-41
1979
chi
出版文献量(篇)
8296
总下载数(次)
17
总被引数(次)
86904
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