逻辑内建自测试技术

• 作者: 丁琳 李璞
• 来源期刊: 高性能计算技术
• 学科: 工学
• 关键词: 逻辑内建自测试 可测性设计 测试向量生成 线性反馈移位寄存器
• 年，卷（期）: 2007,（1）
• 所属期刊栏目: 高性能计算热点技术
• 页码范围: 52-55
• 页数: 4页
• 分类号: TP306
• 语种: 中文

摘要

内建自测试技术以其简单的硬件实现和较小的设计开销被业界广泛使用.本文主要讨论了逻辑内建自测试的结构以及逻辑内建自测试的几种主要类型.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	丁琳		4	13	2.0	3.0
2	李璞		3	0	0.0	0.0