一种选择多个单元的重新播种内建自测试方法

• 作者: 马俊
• 来源期刊: 计算机技术与发展
• 学科: 工学
• 关键词: 内建自测试 重新播种 线性反馈移位寄存器 混合测试
• 年，卷（期）: 2007,（1）
• 所属期刊栏目: 应用开发研究
• 页码范围: 233-234,238
• 页数: 3页
• 分类号: TN407
• 字数: 2991字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-629X.2007.01.078

摘要

随着集成电路技术的迅速发展,芯片的集成度越来越高,怎样对电路进行有效测试就显得越来越重要.其中内建自测试被认为是解决测试问题有效方法之一.文中提出了一种选择多个单元的重新播种BIST测试方法,实验结果表明该方法可以降低硬件开销.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	马俊	安庆师范学院教育技术系	25	194	7.0	13.0