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EWB中测试半导体器件特性的方法
EWB中测试半导体器件特性的方法
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摘要：
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基于ARM的半导体分立器件测试主机系统总线
ARM
S3C44BO
测试主机系统总线
半导体分立器件测试系统
半导体器件寿命影响因素分析及处理方法
半导体器件
寿命
浪涌
静电
软启动
消浪涌电路
半导体器件寿命计算
半导体器件
寿命计算
失效率
阿伦纽斯模型
并行演化算法在半导体器件综合中的应用
器件综合
并行演化算法
孤岛模型
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期刊影响力
电子技术
主办单位：
上海市电子学会
上海市通信学会
出版周期：
月刊
ISSN：
1000-0755
CN：
31-1323/TN
开本：
大16开
出版地：
上海市长宁区泉口路274号
邮发代号：
4-141
创刊时间：
1963
语种：
chi
出版文献量（篇）
5480
总下载数（次）
19
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