基于小生境遗传算法的SoC测试存取机制优化

• 作者: 叶以正 曹贝 王永生 王进祥 肖立伊
• 来源期刊: 哈尔滨工业大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 可测试性设计 系统级芯片 测试存取机制 小生境遗传算法
• 年，卷（期）: 2007,（5）
• 页码范围: 825-829
• 页数: 5页
• 分类号: TN47
• 字数: 4038字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0367-6234.2007.05.037

摘要

提出了基于小生境遗传算法的系统级芯片(SoC)测试存取机制(TAM)的优化方法.结合TAM宽度约束进行SoC中功能内核(IP)的测试壳的优化,解决测试存取机制的测试总线划分及测试总线细分等的优化问题,取得了较好的结果,并有效地减少SoC的测试时间.采用分支-联合(Fork-Joint)的方法可得到更为优化的TAM方法,对于ITC 2002基准SoC d695,比未采用分支-联合方法的TAM划分方法的测试性能最大可以提高30%,和其它方法的优化结果相比,该方法的平均效果优于其它方法1到9个百分点.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王永生	哈尔滨丁业大学微电子中心	1	3	1.0	1.0
2	曹贝	哈尔滨丁业大学微电子中心	1	3	1.0	1.0
3	肖立伊	哈尔滨丁业大学微电子中心	1	3	1.0	1.0
4	王进祥	哈尔滨丁业大学微电子中心	1	3	1.0	1.0
5	叶以正	哈尔滨丁业大学微电子中心	1	3	1.0	1.0