半导体集成电路检验中结构相似性的运用

• 作者: 于慧 康蜜 袁晓岚
• 来源期刊: 信息技术与标准化
• 学科: 工学
• 关键词: 结构相似性 半导体集成电路 检验
• 年，卷（期）: 2008,（1）
• 所属期刊栏目: 集成电路
• 页码范围: 18-20
• 页数: 3页
• 分类号: TN4
• 字数: 2323字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-539X.2008.01.007

摘要

介绍了结构相似性的含义和特点以及如何在半导体集成电路检验中合理地运用结构相似性程序,包括其运用方法、判别规则和注意事项等,从而提高检验效率,降低检验成本.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	康蜜	中国电子科技集团公司第四十七研究所	3	1	1.0	1.0
2	于慧	中国电子科技集团公司第四十七研究所	3	1	1.0	1.0
3	袁晓岚	中国电子科技集团公司第四十七研究所	3	0	0.0	0.0