集成电路动态老化新技术的实施

• 作者: 朱卫良
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: 可靠性 动态老化 监控 数据采集
• 年，卷（期）: 2008,（11）
• 所属期刊栏目: 封装、组装与测试
• 页码范围: 12-15,42
• 页数: 5页
• 分类号: TN406
• 字数: 1965字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1681-1070.2008.11.004

摘要

在集成电路的可靠性评估试验中,动态老化项目是最重要的试验之一.文章提出了利用新技术对集成电路进行动态老化测试的全新方法,该新方法可以对老化线路板的关键电路信息和老化环境进行多路全面测试的监控,全面提高监控范围,及时发现老化过程中的工作异常,并减少人工,提高评估试验的可靠性,和其他方法相比有独特的优势.文中在技术上就集成电路具体实施动态老化试验过程中的技术细节和功能的实现进行探讨,分析和介绍老化技术中老化信号的生成和加载方法以及实时监控、数据采集方案.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	朱卫良	中国电子科技集团公司第五十八研究所	19	108	6.0	9.0