复杂混合信号SoC芯片的延迟测试

• 作者: 沈绪榜 胡剑
• 来源期刊: 计算机工程与应用
• 学科: 工学
• 关键词: 片上系统 延迟测试 测试覆盖率
• 年，卷（期）: 2008,（11）
• 所属期刊栏目: 研发、设计、测试
• 页码范围: 89-93,175
• 页数: 6页
• 分类号: TP302
• 字数: 8730字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3778/j.issn.1002-8331.2008.11.025

摘要

随着芯片集成度的持续提高以及制造工艺的不断进步,对测试覆盖率和产品良率的严格要求,需要研究新的测试方法和故障模型.基于扫描的快速延迟测试方法已经在深亚微米的片上系统(SoC)芯片中得到了广泛的使用.通过一款高性能复杂混合信号SoC芯片的延迟测试的成功应用,描述了从芯片对延迟测试的可复用的时钟产生逻辑的实现,到使用ATPG工具产生延迟图形,在相对较低的测试成本下,获得了很高的转换延迟和路径延迟故障覆盖率,满足了产品快速上市的要求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	沈绪榜	西北工业大学计算机学院	23	173	8.0	12.0
2	胡剑	西北工业大学计算机学院	4	22	2.0	4.0