星用SRAM型FPGA的故障模式分析和容错方法研究

• 作者: 杨孟飞 郝志刚
• 来源期刊: 空间控制技术与应用
• 学科: 工学
• 关键词: 辐射效应 FPGA 故障模式分析 容错方法
• 年，卷（期）: 2009,（1）
• 所属期刊栏目: 短文
• 页码范围: 51-55
• 页数: 5页
• 分类号: TP302.8
• 字数: 4507字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1674-1579.2009.01.010

摘要

静态存储器(SRAM,static random access memory)型现场可编程门阵列(FPGA,field programmable gate array)是一种对空间辐射效应较为敏感的航天器电子元器件.由于其特有的构造和工作方式,单粒子辐射效应对SRAM型FPGA造成的影响及其引起的故障模式有着区别于一般电子元器件的特征.为了提高SRAM型FPGA在空间应用中的可靠性,以该类型FPGA的主流器件作为研究对象,深入分析了FPGA在空间应用中的各种故障模式,研究了相应的各种容错方法.研究表明,通过采取适当的FPGA容错方法,能够有效降低SRAM型FPGA因空间辐射而发生故障的可能性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨孟飞		45	222	10.0	12.0
5	郝志刚		1	15	1.0	1.0