椭偏光谱测量中椭偏参数的灵敏度分析

• 作者: 周全 谭吉春 黄水花
• 来源期刊: 应用光学
• 学科: 物理学
• 关键词: 光学薄膜 椭偏测量术 光学常数 灵敏度分析
• 年，卷（期）: 2009,（1）
• 所属期刊栏目: 光学计量与测试
• 页码范围: 84-88
• 页数: 5页
• 分类号: O484.4|O433.1
• 字数: 3190字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-2082.2009.01.020

摘要

在对椭圆偏振测量的基本原理进行了简单介绍和推导后,讨论了椭圆偏振测量中椭偏参数关于薄膜参数的灵敏度以及入射角对椭偏参数的影响,并进行了具体的仿真分析,得到如下结论:椭偏参数Delta对薄膜光学常数和薄膜厚度变化的灵敏度明显高于椭偏参数Psi.在椭偏数据处理中,椭偏参数Delta的测量精度直接影响薄膜光学常数和薄膜厚度的拟合精度.为了提高椭偏参数Delta的测量精度,可以选择入射角在膺布儒斯特角附近.所得结论对高精度椭偏测量具有指导意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	谭吉春	国防科技大学理学院	34	284	10.0	15.0
2	黄水花	国防科技大学理学院	8	48	4.0	6.0
3	周全	国防科技大学光电科学与工程学院	3	10	1.0	3.0