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摘要:
由于PBGA器件中各材料热膨胀系数有差异,固化后易产生翘曲变形.采用有限元模拟法对PBGA器件的EMC封装固化和后固化过程进行了分析.结果表明:固化过程是影响翘曲的关键过程,残余应力增加,翘曲变形有所增加.如固化后最大残余应力为95.24 MPa,翘曲位移为0.156 2 mm;后固化以后最大残余应力为110.3 MPa,翘曲位移为0.167 4 mm,翘曲位移增加值仅为0.011 2 mm.适当增加硅粉填充剂的含量,可以减小固化工艺后的翘曲变形.
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内容分析
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文献信息
篇名 PBGA固化后产生翘曲的有限元模拟分析
来源期刊 电子元件与材料 学科 工学
关键词 塑封焊球阵列 环氧模塑封装材料 有限元模拟 翘曲
年,卷(期) 2009,(3) 所属期刊栏目 研究与试制
研究方向 页码范围 27-29,41
页数 4页 分类号 TN43
字数 2473字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1001-2028.2009.03.009
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 易福熙 桂林电子科技大学机电工程学院 3 12 3.0 3.0
2 秦连城 桂林电子科技大学机电工程学院 27 150 8.0 11.0
3 李功科 桂林电子科技大学机电工程学院 4 18 3.0 4.0
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研究主题发展历程
节点文献
塑封焊球阵列
环氧模塑封装材料
有限元模拟
翘曲
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子元件与材料
月刊
1001-2028
51-1241/TN
大16开
成都市一环路东二段8号宏明商厦702室
62-36
1982
chi
出版文献量(篇)
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16
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31758
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