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泰克为DDR3存储器设计调试和检验提供完整的测试解决方集
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文献信息
| 篇名 | 泰克为DDR3存储器设计调试和检验提供完整的测试解决方集 | ||
| 来源期刊 | 可编程控制器与工厂自动化(PLC FA) | 学科 | 工学 |
| 关键词 | 测试解决方案 泰克公司 存储器 DDR2 检验 调试 设计 GDDR3 | ||
| 年，卷（期） | kbckzqygczdhplcfa_2009,（7） | 所属期刊栏目 | |
| 研究方向 | 页码范围 | 13 | |
| 页数 | 1页 | 分类号 | TP333 |
| 字数 | 语种 | 中文 | |
| DOI | |||
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研究主题发展历程
节点文献
测试解决方案
泰克公司
存储器
DDR2
检验
调试
设计
GDDR3
研究起点
研究来源
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引文网络交叉学科
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期刊影响力
可编程控制器与工厂自动化(PLC FA)
主办单位：
中国电工技术学会
出版周期：
月刊
ISSN：
1606-5123
CN：
开本：
出版地：
深圳福田中心区深南大道4009号投资大厦14楼E2-E5室
邮发代号：
创刊时间：
语种：
出版文献量（篇）
7431
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22
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