固体含量对PI/SiO2纳米杂化薄膜聚集态结构的影响

• 作者: 牛颖
• 来源期刊: 化工新型材料
• 学科: 工学
• 关键词: 聚酰亚胺 二氧化硅 纳米杂化 固体含量 聚集态结构
• 年，卷（期）: 2009,（9）
• 所属期刊栏目: 科学研究
• 页码范围: 92-95
• 页数: 4页
• 分类号: TQ15
• 字数: 3148字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-3536.2009.09.031

摘要

以均苯四甲酸二酐(PMDA)和4,4'-二氨基二苯醚(ODA)为有机单体,正硅酸乙酯(TEOS)为无机前驱体,制备了SiO2含量一定,PAA杂化胶液固体含量不同的PI/SiO2纳米杂化薄膜.利用傅立叶变换红外光谱(FT-IR)、原子力显微镜(AFM)、广角X射线衍射仪(WAXD)分析了PAA杂化胶液固体含量对PI/SiO2纳米杂化薄膜聚集态结构的影响.研究结果表明,当PAA杂化胶液固体含量为10%～20%时,团聚的SiO2粒子粒径尺寸随固体含量增加而增加,有机相与无机相界面变清晰,两相作用减弱.随固体含量增加,PI分子链有序度降低,但固体含量对PI分子链有序度的影响很小.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	牛颖	大庆医学高等专科学校化学教研室	13	29	4.0	4.0